麥奇克顆粒圖像分析儀的圖片處理和專相功能分析
2019-11-13
麥奇克顆粒圖像分析儀的圖片處理和專相功能分析
1.邊界處理
此功能主要應(yīng)用于晶粒度評(píng)級(jí)檢測(cè)，包括線化邊界設(shè)置--刪除孤立邊界或刪除浮游邊界、保留邊界寬度、刪除浮游長(zhǎng)度、提取邊界（依據(jù)邊界連續(xù)性分割圖像）、粗化和細(xì)化邊界、實(shí)化和勻化邊界。
2.篩選目標(biāo)
此功能主要應(yīng)用于分析*特征物。軟件能夠同步監(jiān)測(cè)和現(xiàn)實(shí)圖像的各種特征和參數(shù)，包括面積、周長(zhǎng)、直徑、長(zhǎng)度等，按照這些參數(shù)篩選目標(biāo)。經(jīng)過二值分割，序號(hào)和面積（不包括空洞）篩選，得到需要的綠色特征物。
3.多相分析
此功能主要應(yīng)用于多相組織的定量分析，以研究確定每相含量對(duì)性能的影響。其功能主要依靠軟件的二值分割功能完成。
麥奇克顆粒圖像分析儀的專相分析功能
1.測(cè)量
圖像分析儀可以測(cè)定脫碳層、滲氮層及滲碳層深度。例如從表層開始到至其組織與基體組織已無區(qū)別的那一點(diǎn)的距離即為脫碳層深度。
2.晶粒度
晶粒度評(píng)級(jí)是金相檢驗(yàn)工作中基礎(chǔ)的檢驗(yàn)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)GB/T6394-2002規(guī)定的截點(diǎn)法(仲裁法)可獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。使用圖像分析儀的截點(diǎn)法進(jìn)行晶粒度測(cè)定，可以直接并迅速地求出晶粒度級(jí)別。
3.夾雜物
應(yīng)用圖像分析儀分析非金屬夾雜物級(jí)別，能夠測(cè)定非金屬夾雜物的數(shù)量、尺寸，直接測(cè)量同一個(gè)視場(chǎng)內(nèi)多個(gè)夾雜物的總長(zhǎng)度，還可以測(cè)量夾雜物的寬度以確定其是否為超寬夾雜物。
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